Responsable scientifique : Brigitte Decamps Chargée de Recherches
Responsable technique : Eric LEROY Ingénieur de Recherches
Cet appareil est un microscope électronique en transmission avec une tension d'accélération de 200 kV. Les caractéristiques techniques sont données dans le tableau ci-dessous :
f |
Cs |
Cc |
Grossissement |
Diffraction |
Résolution point |
Résolution ligne |
Pas focal mini. |
2.7 mm |
2.3 mm |
2.2 mm |
50 à 1 000 000 |
130 à 2700 mm |
0.28 nm |
0.14 nm |
5.4 nm |
Taille de spot :
| Mode L Faisceau parallèle |
Mode S Faisceau convergent |
Mode STEM | |||
| 1L | 0.5 µm | 1S | 70 nm | L | 40 nm |
| 2L | 0.3 µm | 2S | 30 nm | M | 10 nm |
| 3L | 0.2 µm | 3S | 10 nm | S | 3 nm |
| 4L | 0.1 µm | 4S | 6 nm | ||
| 5L | 0.04 µm | 5S | 4 nm | ||
| 6L | 0.02 µm | 6S | 2 nm | ||
| Planning et réservation de temps de travail | |
| Afin de faciliter la communication entre les utilisateurs, une mailing list a été
créée. On pourra ainsi informer les utilisateurs si l'on ne souhaite pas utiliser sa
journée de travail ou au contraire si l'on désire une journée supplémentaire. Les
questions techniques pourront aussi être posées. |
Cliquez pour vous inscrire à la mailing list 2000fx_iscsa@glvt-cnrs.fr
| Vous pouvez accéder au mode d'emploi du 2000 FX en format HTML ou PDF |
Ce microscope est un appareil destiné à effectuer des analyses élémentaires à l'échelle micronique et sub-micronique, pour ce faire, il est équipé des moyens d'analyse suivants :
analyse en dispersion d'énergie (EDS) permettant la détection
des éléments depuis le bore (Link
ISIS Series 300 Microanalysis System) détecteur SATW doté d'une fenêtre
éléments légers. Possibilité de faire des analyses quantitatives, des cartographies
élémentaires et des lignes de profil.
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SYSTEME DE MICROANALYSE LINK ISIS :
MICROANALYSE QUANTITATIVE
IMAGERIE DIGITALE
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