 | analyse en dispersion de longueur
d'onde (WDS)
 | 3 spectromètres verticaux
avec cristaux LPC1, LPC2, LPC3, LLiF, LPET et TAP.
| 1 spectromètre
incliné avec cristaux LiF, PET, TAP, PC2
| cartographie X
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| Nouveau logiciel Peak Sight
| nous sommes équipés du nouveau logiciel de
pilotage de la microsonde sous environnement Windows. |
| notre laboratoire est béta testeur pour
CAMECA. |
| logiciel SX RAY 100 :
| SXQUANTI : analyse quantitative
Caméca avec correction PAP.
| SXQUALI : acquisition et
traitement de spectres WDS et d'intensités
élémentaires suivant une ligne. Identification
automatique des pics avec marqueurs KLM
| SXIMAGE : acquisition d'images
vidéo et rayons X
| SXVISIVIEW : logiciel de
traitement des images acquises
| MLAYER : logiciel de calcul de
couches minces et de calcul de composition pour des
échantillons multicouches.
| PHASE ID : Identification,
localisation et composition de phases en utilisant des
diagrammes binaires et ternaires d'intensité de raies
X.
| PHASE CLASS : Programme permettant
la cartographie de phases pour l'analyse d'échantillons
complexes (nombre d'éléments et de phases
indéfinis) à l'aide des images de raies X et des
images en électrons rétrodiffusés (analyse
modale rapide).
| SAMPLE NAV : Logiciel de pilotage
des échantillons.
| PROFILE/OFF-LINE : Logiciel de
reconstruction de profils.
| IMAGE OVERLAY : Logiciel de
superposition d'images.
| MAPPING NFS : Logiciel de
cartographies WDS pour échantillons de surfaces non
planes
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| logiciel SamX :
| STRATAGEM : logiciel de calcul et
de simulation de couches minces utilisant les modèles
PAP et XPP.
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